Oberflächenmesstechnik und Fehleranalyse für Glas

Standort
Technologie Anwender Zentrum Spiegelau
Anwendungsmöglichkeiten
  • Messung von Rauheit und Kontur von Bauteilen
  • Optische Analyse von Kratzern, Einschlüssen und sonst. Defekten im Glas bis in den nm-Bereich
  • Lokalisierte Bestimmung einzelner Elemente
Ansprechpartner
Maschinen
EVO 40 HV Rasterelektronenmikroskop
Carl Zeiss Microscopy GmbH, Jena
EVO 40 HV Rasterelektronenmikroskop
Carl Zeiss Microscopy GmbH, Jena

Technologie Anwender Zentrum Spiegelau - Oberflächenmesstechnik und Fehleranalyse für Glas

Keyence VK-X250 Laser-Scanning-Mikroskop
KEYENCE Deutschland GmbH, Neu-Isenburg
Keyence VK-X250 Laser-Scanning-Mikroskop
KEYENCE Deutschland GmbH, Neu-Isenburg

Technologie Anwender Zentrum Spiegelau - Oberflächenmesstechnik und Fehleranalyse für Glas

Motic SMZ 171 Stereomikroskop
Motic Europe, Wetzlar
Motic SMZ 171 Stereomikroskop
Motic Europe, Wetzlar

Technologie Anwender Zentrum Spiegelau - Oberflächenmesstechnik und Fehleranalyse für Glas