Carl Zeiss Microscopy GmbH, Jena EVO 40 HV Rasterelektronenmikroskop

Anwendungsmöglichkeiten
  • Analyse von Oberflächen von Partikeln oder kleineren Proben aus unterschiedlichen Materialien. Durch eine Beschichtung können auch nichtleitende Proben untersucht werden.
  • Beschichtungen: Gold oder Kohlenstoff
  • EDX: Mehrpunkt-Spektren, Linien-Scan, Mapping
Technische Daten
  • Rasterelektronenmikroskop für die Oberflächenanalyse von Partikeln oder kleineren Proben. Die Kombination mit einem EDX lässt sich auch eine Materialanalyse durchführen.
  • Kathode: Wolframkathode
  • SE-Detektor: Everhart-Thornley Detektor
  • BSE-Detektor: 4 Flächen BSE-Detektor
  • Probenbühne: 5-achsig, motorisiert
  • Vakuumpumpe: Turbomolekularpumpe
  • Beschleunigungsspannung: 0,2 - 30 kV, Frei einstellbar
  • Probenkammer: 310 mm (d) x 220 mm (h)
  • Integriertes SmartEDX EDX Analytik-System
Labor
Oberflächenmesstechnik und Fehleranalyse für Glas
Standort

Technologie Anwender Zentrum Spiegelau

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