Forschende
Projekte
Alle
Aktiv
Abgeschlossen
Labore & Maschinen
Labore
Maschinen
Publikationen
Weiteres
Schwerpunkte
Gruppen
Standorte
Login-Bereich
Maschinen
Suchen
Fakultät
Alle
AGW
AI
AWW
BIW
ECRI
EMT
MB-MK
NuW
Standort
Alle
Campus Cham
European Campus Rottal-Inn
TC Cham
TC Teisnach Optik
TC Teisnach Sensorik
Technische Hochschule Deggendorf
Technologie Anwender Zentrum Spiegelau
Technologie Campus Cham
Technologie Campus Freyung
Technologie Campus Hutthurm
Technologie Campus Parsberg-Lupburg
Technologie Campus Plattling
Typ
Alle
Ausgangsstrom
Aussetzspannung
BR Automation
Batteriezelle
Bohrmaschine
Bonddraht
CT200
Coulomb
Current Transducer
DC-AC
DCB
DDK
DSC
Deflektometer
Dielektrika
Dielektrisch
Diode
Dynamometer
Eingangsstrom
Einsetzspannung
Fräsmaschine
HB30
Heavy Wire Bonder
Hochspannung
Hohlraum
Induktivität
Industrieroboter
Interferometer
Isolationsfehler
Kabel
Kalottenschleifgerät
Kondensator
LCR Bridge
LabEvent LC/100/70/10
Leistungselektronik
Leiterplatte
MCTS2
MOSFET
MPS
Mikroskop
Module
Oberflächenvermessung
PCB
Poliermaschine
Riss
Rohde & Schwarz
SAM
SAM 301
Scanning acoustic microscope
Schleifmaschine
Strommessung
Stromwandler
SuperTrak
TPT
Teilentladung
Teilentladungsprüfgerät
Temperature Calibrator
Temperature Chamber
Wirkungsgrad
conveyor system
linear magnet
smart conveyance
1
Maschinen gefunden
µe reflectControll Deflektometer
Micro-Epsilon
µe reflectControll Deflektometer
Micro-Epsilon
NuW - TC Teisnach Optik - Messtechnik
Deflektometer
Mehr anzeigen
Über
×
Version: 2.2.1-qf2
Kontakt
Projektverantwortlich
Kristin Seffer
Programmierung
Mohammadadali Erfani
Marco Kretschmann
Inhaltliche Betreuung
ZAF
Content-Management
Natalie Drews
Version: 2.2.1-qf2