Micro-Epsilon µe reflectControll Deflektometer

Anwendungsmöglichkeiten
  • Anwendungstyp: Schnelle und hochauflösende Messung von Oberflächen
  • Einsatzgebiet: Planflächen in Reflexion, Sphärische Flächen in Reflexion (konkav/konvex)
Technische Daten
  • Laterale Auflösung: 65 - 75 mm
  • Messfeld: 105 x 88 mm
  • Messobjekte: Ra < 20nm (poliert)
  • Messgeschwindigkeit: X/Y-Achse: 50 mm/s
  • Auflösung Höhe: 10 nm
  • Defekterkennung: ab 0,1 mm und Höhe/ Tiefe 100 nm
  • Datenschnittstelle: USB, VGA, Ethernet, Digital I/O
  • Max. Höhe: 200 mm
  • Ausgabe Dateiformat: CSV und Bilddateien
Labor
Messtechnik
Standort

TC Teisnach

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