Thermo Fisher Scientific NEXSA

Anwendungsmöglichkeiten
  • Analyse der Elementzusammensetzung von Festkörperoberflächen (XPS: Li...U, REELS: H)
  • Bestimmung des chemischen Zustandes der Elemente
  • Messung der Austrittsarbeit
  • Messung der Bandlückenenergie
  • Erstellung von 2D-Maps der Elementzusammensetzung
  • Erstellung von Tiefenprofilen (optional mit Probenrotation) der Elementzusammensetzung
Technische Daten
  • Maximale Probengröße: 60 x 60 x 20 mm
  • Kippwinkel Probenhalter: 0...90 °
  • Größe der Analysenfläche: 10...400 µm (XPS) / 1 mm (REELS)
  • Röntgenquelle (XPS): monochromatische Al-Kα-Strahlung
  • Elektronenquelle (REELS): 100...1000 eV
  • Auflösung des Elektronenenergieanalysators: < 0,5 eV HWB
  • Aufladungskompensation: Elektronen / Ar-Ionen simultan
  • Monoatomare Ionenquelle (Ar): 200...4000 eV
  • Gas-Cluster-Ionenquelle (Ar): 1...100 eV/Ion
Labor
Labor Material- und Oberflächenanalytik
Standort

TC Teisnach Sensorik

Ansprechpartner
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