Suche nach „[W.] [Bergbauer]“ hat 7 Publikationen gefunden

Maschinenbau und Mechatronik

Vortrag

W. Lausch, Franz Bergbauer

Gibt es bei Viertakt-Großdieselmotoren in ihrem Betriebs- und Schwingungsverhalten eine Abhängigkeit von der Zylinderzahl? Schiffs-Ingenieur Journal Mitteilungen des „Vereins der Schiffs-Ingenieure zu Hamburg e.V.“ (VSIH)

Maschinenbau und Mechatronik

Beitrag (Sammelband oder Tagungsband)

W. Lausch, Franz Bergbauer

Are Seven-Cylinder Engines Handicapped as Compared with other Cylinder Numbers

MAN-B&W Druckschrift

Maschinenbau und Mechatronik

Beitrag (Sammelband oder Tagungsband)

W. Lausch, Franz Bergbauer

Sind Motoren mit sieben Zylindern gegenüber anderen Zylinderzahlen benachteiligt?

MAN-B&W Druckschrift

Elektrotechnik und MedientechnikIQMAMaschinenbau und Mechatronik

Vortrag

Günther Benstetter, Werner Frammelsberger, Edgar Lodermeier, Heiko Ranzinger, D. Liu, Peter Breitschopf, W. Bergbauer, Alexander Hofer

Raster-Sonden-Mikroskopie (SPM) in der Fehler- und Zuverlässigkeitsanalytik

VDE Fehlermechanismen bei kleinen Geometrien, Grainau

Elektrotechnik und MedientechnikIQMAMaschinenbau und Mechatronik

Vortrag

Günther Benstetter, W. Bergbauer, T. Lutz, Werner Frammelsberger

Kelvin Probe Force Microscopy – An appropriate tool for the electrical characterisation of LED heterostructures

17th European Symposium - Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis (ESREF) 2006, Wuppertal

Elektrotechnik und MedientechnikIQMAMaschinenbau und Mechatronik

Vortrag

Günther Benstetter, W. Bergbauer, T. Lutz, Werner Frammelsberger

Kelvin Probe Force Microscopy – An appropriate tool for the electrical characterisation of LED heterostructures

Nanotech Northern Europe, Helsinki, Finnland

Elektrotechnik und MedientechnikIQMAMaschinenbau und Mechatronik

Zeitschriftenartikel

W. Bergbauer, T. Lutz, Werner Frammelsberger, Günther Benstetter

Kelvin Probe Force Microscopy – An appropriate tool for the electrical characterisation of LED heterostructures

Microelectronics Reliability, vol. 46, no. 9-11, pp. 1736-1740

Abstract anzeigen

Light Emitting Diodes (LEDs) are commercially important devices in opto-semiconductor industry. The light emitting properties of LEDs degrade with time of operation and may lead to device failure. Even though the stability and reliability of LEDs are important topics, they are not well researched with AFM to date. This work demonstrates that Kelvin Probe Force Microscopy (KPFM) is an appropriate method to identify specific sites of increased degradation in a semiconductor heterostructure. Furthermore, the study shows that KPFM provides the metrological basis for further investigations with respect to the progress of degradation and its physical background. In this study, KPFM has been used to measure the potential gradient over cross-sectioned LED heterostructure in operation at different states of degradation. The results show significant differences between new and aged LEDs, markedly at specific layers of the LED heterostructure.