Suche nach „[M.] [Müller]“ hat 17 Publikationen gefunden

DigitalElektrotechnik und Medientechnik

Beitrag (Sammelband oder Tagungsband)

H. Meer, T. Lengyel, T. Kittel, B. Taubmann, W. Mandarawi, H. Reiser, M. Protsenko, T. Müller, B. Kolosnjaji, Andreas Fischer, E. Weishäupl

CloudIDEA: A Malware Defense Architecture for Cloud Data Centers

Proceedings of the 5th International Symposium on Cloud Computing, Trusted Computing and Secure Virtual Infrastructures (C&TC 2015) [Rhodes, Greece; October 26-28, 2015]

2015

TC Grafenau

Beitrag (Sammelband oder Tagungsband)

M. Müller, Michael Fernandes, Nari Arunraj, Diane Ahrens

Time series sales forecasting to reduce food waste in retail industry

Proceedings of The 34th International Symposium on Forecasting - Economic Forecasting: Past, Present and Future (June 29th - July 2nd 2014, Rotterdam, The Netherlands)

2014

Maschinenbau und Mechatronik

Beitrag (Sammelband oder Tagungsband)

A. Cantatore, P. Müller, L. Chiffre, Jochen Hiller, M. Bartscher

New reference object for Metrological performance testing of industrial CT systems

Proceedings of the 12th euspen International Conference (Juni 2012, Stockholm, Schweden)

2012

Maschinenbau und Mechatronik

Zeitschriftenartikel

U. Farwick, Simone Walker-Hertkorn, E. Angert, M. Kübert, J. Müller

Wärme aus altem Bergwerksschacht – Möglichkeiten der Tiefen Geothermie im Wohnungsbau

bbr - Fachmagazin für Brunnen- und Leitungsbau (Sonderheft Tiefe Geothermie), vol. 61, pp. 80-82

2010

Angewandte Naturwissenschaften und Wirtschaftsingenieurwesen

Beitrag (Sammelband oder Tagungsband)

M. Bachmann, S. Holzwarth, P. Müller, K. Lenhard, P. Haschberger, M. Habermeyer, T. Schwarzmaier, Paul Schötz, E. Bogner, C. Schwarz, S. Weide, P. Gege

Flugzeuggetragene hyperspektrale Fernerkundung am Deutschen Zentrum für Luft- und Raumfahrt (DLR)

Vorträge Dreiländertagung - Wissenschaftlich-Technische Jahrestagung der DGPF, 01.-03.07.2010, Wien, Österreich, vol. 19

2010

Angewandte Wirtschaftswissenschaften

Beitrag (Sammelband oder Tagungsband)

Georg Herde, M. Riedl, A. Müller

Digitale Datenanalyse in der Internen Revision: Eine bewährte Prüfmethodik – besonders mit innovativen Weiterentwicklungen

Innovative Prüfungstechniken und Revisionsvorgehensweisen, Frankfurt School of Finance & Management , Frankfurt am Main

2007

ISBN: 978-3-937519-51-7

Angewandte Wirtschaftswissenschaften

Beitrag (Sammelband oder Tagungsband)

A. Turk, B. Grippe, Josef Schneeberger, G. Kraetzschmar, C. Hausdorf, M. Müller, M. Hormeß, R. Bimazubute, H. Stoyan

Wissenserwerb und Wissensmanagement

Wissen in Aktion, no. 41

2004

NachhaltigAngewandte Naturwissenschaften und WirtschaftsingenieurwesenTAZ Spiegelau

Zeitschriftenartikel

H. Treichel, P. Ansmann, C. Müller, Günther Ruhl, R. Würl, M. Dietlmeier

Low dielectric constant materials for interlayer dielectric

(Invited Paper)

Microelectronic Engineering, vol. 40, no. 1, pp. 1-19

1998

DOI: 10.1016/S0167-9317(97)00185-8

Abstract anzeigen

The more advanced an integrated circuit becomes, the more stringent are the demands for certain properties of a dielectric or insulating material. In addition, it is essential that the layer maintain its specific electrical, physical and chemical properties after incorporation in the device structure and during subsequent processing. Due to temperature budget constraints and the accelerated decrease of feature sizes below 0.25 μm one can no longer rely on traditional choices but has to search for alternatives, both for low and high permittivity replacements. In the article we survey currently used low dielectric constant materials and future trends for micro-electronic applications.

Angewandte Wirtschaftswissenschaften

Beitrag (Sammelband oder Tagungsband)

Josef Schneeberger, C. Hausdorf, M. Müller

Zur Interessantheit bei der Entdeckung von Wissen in Datenbanken

Data Mining – Theoretische Aspekte und Anwendungen, Heidelberg

1998

NachhaltigAngewandte Naturwissenschaften und WirtschaftsingenieurwesenTAZ Spiegelau

Beitrag (Sammelband oder Tagungsband)

H. Treichel, P. Ansmann, C. Müller, Günther Ruhl, R. Würl, M. Dietlmeier

Dielectric Materials and Insulators for Microelectronics

Chemical vapor deposition, Pennington, NJ, vol. 97-25

1997

ISBN: 1-566-77178-1

Angewandte Wirtschaftswissenschaften

Beitrag (Sammelband oder Tagungsband)

Josef Schneeberger, M. Müller, O. Büchter

Improving Forward Selection with Background Knowledge: Finding Interesting Multiple Regression Models for Sales Prediction

Knowledge Discovery and Data Mining: Techniques and Applications. Proc. of the First Pacific-Asia Conference

1997

Angewandte Wirtschaftswissenschaften

Beitrag (Sammelband oder Tagungsband)

Josef Schneeberger, M. Müller, H. Stoyan

Die Konfiguration von Turbinen-Anlagen mit NEXPERT OBJECT

Objektorientierte und regelbasierte Wissensverarbeitung. (= Angewandte Informatik), Heidelberg, Berlin, Oxford

1995

NachhaltigAngewandte Naturwissenschaften und WirtschaftsingenieurwesenTC Teisnach Sensorik

Zeitschriftenartikel

K.-H. Brenner, S. Kufner, Maria Kufner, M. Frank, A. Müller

3D integration of refractive microoptical components by deep proton irradiation

Pure and Applied Optics: Journal of the European Optical Society Part A, vol. 2, no. 2, pp. 111-124

1993

DOI: 10.1088/0963-9659/2/2/004

Abstract anzeigen

An integration of microoptical components to three-dimensional systems is of interest for optical information processing as well as for optical interconnections. Polymethyl methacrylate (PMMA) is a suitable substrate material, because microprisms, beamsplitters and microlenses can be integrated monolithically in the same substrate by deep proton irradiation. The microcomponents can be combined to compact microoptical imaging systems which are easy to align. The fabrication method and the imaging properties of this system are discussed.

NachhaltigAngewandte Naturwissenschaften und WirtschaftsingenieurwesenTC Teisnach Sensorik

Zeitschriftenartikel

S. Sinzinger, K.-H. Brenner, M. Testorf, J. Mohr, S. Kufner, J. Göttert, Maria Kufner, A. Müller, J. Moisel

Application of three-dimensional micro-optical components formed by lithography, electroforming, and plastic molding

Applied Optics, vol. 3232, no. 92, pp. 6464-6469

1993

DOI: 10.1364/AO.32.006464

Abstract anzeigen

Micro-optics is usually associated with planar waveguides or integrated optical circuits. In this case the propagation of light is restricted to one or two dimensions, and the three-dimensional nature of light propagation is disregarded. We present a method of fabricating three-dimensional micro-optical components by the so-called LIGA process, a lithography, electroforming, and plastic molding process in which poly(methyl methacrylate) is structured by high-energy synchrotron radiation. We demonstrate an experimental system of image formation that uses microprisms and microlenses for a three-dimensional microintegration of optical components.

NachhaltigAngewandte Naturwissenschaften und WirtschaftsingenieurwesenTC Teisnach Sensorik

Beitrag (Sammelband oder Tagungsband)

K.-H. Brenner, S. Kufner, Maria Kufner, M. Frank, A. Müller

Deep proton irradiation of PMMA for a 3D integration of micro-optical components

Integrated Optics and Micro-Optics with Polymers, Wiesbaden

1993

ISBN: 978-3-322-93431-4

Abstract anzeigen

An integration of microoptical components to threedimensional systems is of interest for optical information processing as well as for optical interconnections. Polymethyl methacrylate (PMMA) is a suitable substrate material, because microprisms, beamsplitters and microlenses can be integrated monolithically in the same substrate by deep proton irradiation. The microcomponents can be combined to compact microoptical imaging systems which are easy to align. The fabrication method and the imaging properties of this system are discussed and applications are outlined.

Beitrag (Sammelband oder Tagungsband)

S. Sinzinger, K.-H. Brenner, J. Moisel, M. Testorf, S. Kufner, J. Göttert, Maria Kufner, J. Mohr, M. Frank, A. Müller

Microoptical setup with microlenses and microprisms based on refractive optics

SPIE Vol. 1806

1992

Maschinenbau und Mechatronik

Vortrag

A. Cantatore, P. Müller, L. Chiffre, Jochen Hiller, M. Bartscher

Investigation on the influence of image quality in X-ray CT metrology

Conference on Industrial Computed Tomography (ICT), Wels, Österreich