Suche nach „[Hofbauer] [Engelbert]“ hat 30 Publikationen gefunden

NachhaltigAngewandte Naturwissenschaften und Wirtschaftsingenieurwesen

Beitrag (Sammelband oder Tagungsband)

R. Kometer, Engelbert Hofbauer

Fast and reliable in-situ measurements of large and complex surfaces using a novel deflectometric device

Proceedings of SPIE 10829 (Fifth European Seminar on Precision Optics Manufacturing [April 10-11, 2018; Teisnach])

ISBN: 978-1-5106-2270-8

DOI: 10.1117/12.2318583

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In-situ measurements of complex surfaces during the polishing process is a challenge for the production of aspheric surfaces or freeforms. We are providing a new attempt by using a scanning deflectometric device based on our recently published DaOS [1] principle, which allows in-situ measurements of large optical surfaces in realistic production environments and offers the conditions for direct intervention and correction in the polishing process. The results of insitu surface measurements after three polishing steps of a large glass substrate (320 mm in diameter) in a lever-polishing machine (NLP500 from Stock Konstruktion GmbH) are shown and critically compared with interferometric measurements on a SSI-A Interferometer. In this paper, the technical setup consisting of a highly precise scanning penta prism device and a Vignetting Field Stop (VFS) Sensor is explained. Secondly, we are discussing the mathematical algorithm to reconstruct the complete surface from angle measurements from a given number of cross-sectional cuts. The data of the surface reconstruction are transformed into a XYZ-file format to be analyzed with MetroPro®. The results are shown and discussed in terms of accuracy and reproducibility. Finally, a comparison with interferometric measurements on an SSI-A (QED) at TH Deggendorf (THD), Technology Campus Teisnach is shown to proof the degree of accuracy and applicability of our new, fast and reliable device for in-situ measurements of complex surfaces.

NachhaltigAngewandte Naturwissenschaften und Wirtschaftsingenieurwesen

Beitrag (Sammelband oder Tagungsband)

Engelbert Hofbauer, Rolf Rascher, Felix Friedke, R. Kometer

Resolution, measurement errors and uncertainties on deflectometric acquisition of large optical surfaces "DaOS"

Proceedings of SPIE 10326 (Fourth European Seminar on Precision Optics Manufacturing, 1032601 [April 4th-5th 2017, Teisnach])

DOI: 10.1117/12.2267513

NachhaltigAngewandte Naturwissenschaften und Wirtschaftsingenieurwesen

Zeitschriftenartikel

Engelbert Hofbauer, Rolf Rascher

Deflectometric Acquisition of Large Optical Surfaces DaOS

Using a new physical measurement principle: vignetting field stop procedure

Optik&Photonik, vol. 11, no. 5, pp. 40-44

DOI: 10.1002/opph.201600036

NachhaltigAngewandte Naturwissenschaften und Wirtschaftsingenieurwesen

Zeitschriftenartikel

Engelbert Hofbauer, Rolf Rascher, Manon Schilke, Johannes Liebl, J.-P. Richters

Deflectometric Acquisition of Large Optical Surfaces “DaOS” Using a New Physical Measurement Principle: Vignetting Field Stop

(Reprinted from Proceedings of SPIE Volume 10009: Third European Seminar on Precision Optics Manufacturing, 100090Y [Teisnach, April 12th 2016] doi:10.1117/12.2236134)

Bavarian Journal of Applied Sciences, no. 2, pp. 146-161

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The vignetting field stop procedure uses a deflectometric approach to acquire big Optical Surfaces – DaOS – and it offers the possibility to measure nearly any shape or form using a scanning routine. The basic physical measurement principle in DaOS is the vignettation of a quasi-parallel light beam emitted by an expanded light source in auto collimation arrangement with a reflecting element. Thereby nearly any curvature of the specimen, is measurable. Due to the fact, that even sign changes in the curvature can be detected, also aspheres and freeform surfaces of any size can be evaluated. In this publication the vignetting field stop procedure is discussed. Additionally the deflectometric setup is described. Because of some typical influences of beam deflection to the accuracy of angle measurement by using the vignetting principle, suitable methods of calibration for the sensor are examined and the results of these methods are presented. Furthermore, the technical principle of deflectometric measurements using an angle detecting device is explained inclusive of all random and systematic errors generated by the setup. The last part of this publication shows the actual result of test measurements with calculated absolute deviation of errors with a large lateral dimension as well as the determination of the maximal achievable lateral resolution by detecting mid frequent structures on flat and spherical test parts with a diameter of 300 mm. These measurements are compared critically to reference results which are recorded by interferometry and further scanning methods.

Elektrotechnik und Medientechnik

Vortrag

Engelbert Hofbauer

Project DoSuRe

Deflectometric Optical Surface Reference by Vignetting Field Stop Procedure

13. Optatec 2016 - Internationale Fachmesse für optische Technologien, Komponenten und Systeme, Frankfurt am Main

Angewandte Naturwissenschaften und Wirtschaftsingenieurwesen

Hochschulschrift

Engelbert Hofbauer

Optisches Verfahren zur zweidimensionalen Messung von Winkeln und Winkeländerungen bei großen Messabständen

NachhaltigAngewandte Naturwissenschaften und Wirtschaftsingenieurwesen

Beitrag (Sammelband oder Tagungsband)

Engelbert Hofbauer, Rolf Rascher, Manon Schilke, Johannes Liebl, J.-P. Richters

Deflectometric acquisition of large optical surfaces (DaOS) using a new physical measurement principle: vignetting field stop procedure

Proceedings of SPIE 10009 (Third European Seminar on Precision Optics Manufacturing, 100090Y [April 12th 2016, Teisnach])

DOI: 10.1117/12.2236134

Angewandte Naturwissenschaften und Wirtschaftsingenieurwesen

Vortrag

Engelbert Hofbauer

Vignettierung als neues physikalisches Messprinzip - oder: wie mache ich aus einem Problem eine Lösung?

Innovationsworkshop "Innovation in der Photonik" im Rahmen der 13. Optatec 2016 - Internationale Fachmesse für optische Technologien, Komponenten und Systeme, Frankfurt am Main

NachhaltigAngewandte Naturwissenschaften und Wirtschaftsingenieurwesen

Beitrag (Sammelband oder Tagungsband)

Engelbert Hofbauer, Rolf Rascher, Felix Friedke, Thomas Stubenrauch, Johannes Liebl, J.-P. Richters

The vignetting field stop procedure: A new physical measurement principle for the Deflectometric acquisition of big Optical Surfaces - DaOS

DGaO Proceedings (116. Jahrestagung in Brno, Tschechische Republik, 25.-29.05.2015)

Angewandte Naturwissenschaften und Wirtschaftsingenieurwesen

Beitrag (Sammelband oder Tagungsband)

Engelbert Hofbauer, Rolf Rascher, K. Wühr, Felix Friedke, Thomas Stubenrauch, B. Pastötter, S. Schleich, C. Zöcke

3D-optical measurement system using vignetting aperture procedure

Proceedings of SPIE Vol. 9132

DOI: 10.1117/12.2052631

Angewandte Naturwissenschaften und Wirtschaftsingenieurwesen

Beitrag (Sammelband oder Tagungsband)

Engelbert Hofbauer, Rolf Rascher, Thomas Stubenrauch, Johannes Liebl, Roland Maurer, et al.

Approach to the measurement of astronomical mirrors with new procedures

Optical Metrology 2013, Optical Measurement Systems for Industrial Inspection VIII, volume 8788

Angewandte Naturwissenschaften und Wirtschaftsingenieurwesen

Vortrag

R. Neubert, L. Grunwaldt, Christian Schopf, Engelbert Hofbauer, et al.

Single Open Reflector for MEO/GNSS type Satellite. A status report

17th International Workshop on Laser Ranging, Bad Kötzting

Angewandte Naturwissenschaften und Wirtschaftsingenieurwesen

Vortrag

Paul Schötz, Johannes Liebl, Rolf Rascher, Christine Wünsche, Engelbert Hofbauer, Karlheinz Penzkofer

Metrology at Technologie Campus Teisnach

8th Workshop Asphere Metrology, Braunschweig

Angewandte Naturwissenschaften und WirtschaftsingenieurwesenElektrotechnik und Medientechnik

Zeitschriftenartikel

Engelbert Hofbauer, Horst Linthe, Roland Maurer

Messunsicherheit bei der interferometrischen Formvermessung

Photonik - Fachzeitschrift für die optischen Technologien, no. 2

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Bei der Herstellung von Präzisionsoptiken spielt die Qualitätssicherung eine wichtige Rolle. Die Referenzflächen interferometrischer Geräte dürfen gewisse Grenzen nicht überschreiten, damit die Toleranzen in der Fertigung mit Sicherheit eingehalten werden können. Die Vermessung der Vergleichs- und Referenzoptiken der Messmittel ermöglicht die Klassifizierung der Referenzobjektive mit λ/10, λ/20, λ/30 oder λ/40 und damit eine zuverlässige Beurteilung der Fertigungsprozesse in der Produktion.

Angewandte Naturwissenschaften und Wirtschaftsingenieurwesen

Patent

Engelbert Hofbauer

Verfahren und Messvorrichtung zur berührungslosen Messung von Winkeln oder Winkeländerungen an Gegenständen

Angewandte Naturwissenschaften und Wirtschaftsingenieurwesen

Patent

Engelbert Hofbauer

Optical System for imaging the light from light sources

Angewandte Naturwissenschaften und Wirtschaftsingenieurwesen

Patent

Engelbert Hofbauer

Method and measuring device for contactless measurement of angles or angel changes on objects

Angewandte Naturwissenschaften und Wirtschaftsingenieurwesen

Patent

Engelbert Hofbauer

Astigmatismuskorrektur bei Laserdiodenoptiken

Angewandte Naturwissenschaften und Wirtschaftsingenieurwesen

Patent

Engelbert Hofbauer

Optisches System

Angewandte Naturwissenschaften und Wirtschaftsingenieurwesen

Patent

Engelbert Hofbauer

Verfahren zum Fixieren eines optischen Elements in Fassung