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Suche nach „[H.] [Hofer]“ hat 9 Publikationen gefunden
Suchergebnis als PDFBuch (Monographie)
B. Bittschi, B. Brandl, H. Hofer, S. Koch, Wolfgang Nagl, R. Sellner
Zukunft der Steuern in Österreich - Mittelfristige Projektion der Lohn-, Einkommen-, Körperschaft- und Umsatzsteuer
Studie im Auftrag des Bundesministeriums für Finanzen (unveröffentlicht)
2017
Zeitschriftenartikel
Y. Ji, H. Fei, Y. Shi, V. Iglesias, D. Lewis, N. Jiebin, S. Long, M. Liu, Alexander Hofer, Werner Frammelsberger, Günther Benstetter, A. Scheuermann, P. McIntyre, M. Lanza
Characterization of the photocurrents generated by the laser of atomic force microscopes
Review of Scientific Instruments, vol. 87, no. 8
2016
Buch (Monographie)
Zumutbarkeitsbestimmungen auf dem österreichischen Arbeitsmarkt
Studie im Auftrag des Bundesministeriums der Finanzen
2015
Zeitschriftenartikel
Manuel Bogner, Alexander Hofer, Günther Benstetter, H. Gruber, R.Y.Q. Fu
Differential 3ω method for measuring thermal conductivity of AIN and SI3N4 thin films
Thin Solid Films, vol. 591 Part B, pp. 267-270
2015
DOI: 10.1016/j.tsf.2015.03.031
Vortrag
Manuel Bogner, Günther Benstetter, Alexander Hofer, H. Gruber
The differential 3ω method for measuring the thermal conductivity of AIN and SI3N4 thin films
16th International Conference on Thin Films (ICTF16), Dubrovnik, Kroatien
2014
Vortrag
Alexander Hofer, R. Biberger, Günther Benstetter, B. Wilke, H. Göbel
Scanning probe microscopy based electrical characterization of thin dielectric and organic semiconductor films
24th European Symposium on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis (ESREF), Arcachon, Frankreich
2013
Zeitschriftenartikel
Alexander Hofer, R. Biberger, Günther Benstetter, B. Wilke, H. Göbel
Scanning probe microscopy based electrical characterization of thin dielectric and organic semiconductor films
Microelectronics Reliability, vol. 53, no. 9-11, pp. 1430-1433
2013
Vortrag
Alexander Hofer, B. Wilke, R. Biberger, Günther Benstetter, H. Göbel
Capacitance and Conductivity Mapping of Organic Films and Devices with Non-Contact SPM Methods
International Workshop on Scanning Probe Microscopy for Energy Applications, Mainz
2011
Vortrag
Günther Benstetter, R. Biberger, Alexander Hofer, H. Göbel
Intermittent-Contact Scanning Capacitance Analysis of Thin Dielectric Films and Semiconductor Devices
Invited Talk
5th International Conference on Technological Advances of Thin Films & Surface Coatings, Harbin, China
2010