Suche nach „[D.] [Alvarez]“ hat 2 Publikationen gefunden

F: Elektrotechnik und MedientechnikF: Maschinenbau und MechatronikI: IQMA

Vortrag

T. Schweinböck, S. Schömann, D. Alvarez, M. Buzzu, Günther Benstetter, Werner Frammelsberger, Peter Breitschopf

New Trends in the application of scanning probe techniques in failure analysis

15th European Symposium on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis (ESREF), Zürich, Schweiz

2004

F: Elektrotechnik und MedientechnikF: Maschinenbau und MechatronikI: IQMA

Zeitschriftenartikel

T. Schweinböck, S. Schömann, D. Alvarez, M. Buzzu, Günther Benstetter, Werner Frammelsberger, Peter Breitschopf

New Trends in the application of scanning probe techniques in failure analysis

Microelectronics Reliability, vol. 44, no. 9-11, pp. 1541-1546

2004

DOI: 10.1016/j.microrel.2004.07.037