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Suche nach „[D.] [Alvarez]“ hat 2 Publikationen gefunden
Suchergebnis als PDFF: Elektrotechnik und MedientechnikF: Maschinenbau und MechatronikI: IQMA
Vortrag
T. Schweinböck, S. Schömann, D. Alvarez, M. Buzzu, Günther Benstetter, Werner Frammelsberger, Peter Breitschopf
New Trends in the application of scanning probe techniques in failure analysis
15th European Symposium on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis (ESREF), Zürich, Schweiz
2004
F: Elektrotechnik und MedientechnikF: Maschinenbau und MechatronikI: IQMA
Zeitschriftenartikel
T. Schweinböck, S. Schömann, D. Alvarez, M. Buzzu, Günther Benstetter, Werner Frammelsberger, Peter Breitschopf
New Trends in the application of scanning probe techniques in failure analysis
Microelectronics Reliability, vol. 44, no. 9-11, pp. 1541-1546
2004