3ω-Microscopy

Mikroskopische Bestimmung thermischer und struktureller Eigenschaften dünner Schichten durch modifizierte Raster-Sonden-Verfahren

Fördergeber

Forschungsschwerpunkt
Sustainable Production & Energy Technologies
Laufzeit

01.09.2012 - 31.08.2015

Beschreibung

Motivation

Analytik dünner und ultra- dünner Schichten

Vorgehen

Bestimmung der thermischen Leitfähigkeit dünner Schichten. Ziel des geplanten Vorhabens ist die Entwicklung, der Bau und die Erprobung eines Zusatzmoduls (Add-on Modul) für Raster-Sonden-Mikroskope (RSM) zur thermischen Charakterisierung dünner Schichten und nanostrukturierter Materialen wie sie beispielsweise für Thermogeneratoren benötigt werden. Im Rahmen des beantragten Vorhabens soll das Modul in Verbindung mit bereits etablierten Mess- und Charakterisierungsmethoden eingesetzt werden.

Steckbrief als PDF

Mitglieder
Leitung
Partner