F & E Projekte sowie Dienstleistungen auf den Gebieten IC Qualitätssicherung und Zuverlässigkeitsanalytik, Halbleiter-Waferleveltests (bis 300mm Wafer), Entwicklung und Durchführung von IC Stress- und Testverfahren, Lebensdauerprojektionen, Fehler- und Ausfallanalytik, IC Konstruktionsanalytik, Halbleitermesstechnik, Lock-In-Verstärker-Messtechnik